LED高低溫快速溫度沖擊試驗(yàn)箱

LED高低溫快速溫度沖擊試驗(yàn)箱能模擬高溫與低溫之間的瞬間變化環(huán)境。從而判斷產(chǎn)品的可靠性及穩(wěn)定性能等參數(shù)是否合格。將提供給您預(yù)測(cè)和改進(jìn)產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性依據(jù)。用于檢測(cè)電子、汽車、橡膠、塑膠、航天科技、電子科技及通信器材等產(chǎn)品在反復(fù)冷熱變化下的抵抗能力。

　　適用于、艦船、電工、電子、儀器儀表；科研器械；民用核能；高等院校；科研實(shí)驗(yàn)所；商檢仲裁、技術(shù)監(jiān)督部門；建材陶瓷；石油化工等產(chǎn)品、整機(jī)及零部件的高低溫沖擊試驗(yàn)。

滿足標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T10592-2008高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A：低溫

 GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)B：高溫

 GB/T5170.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法總則

 GJB150.3A-2009裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分：高溫試驗(yàn)

 GJB150.4A-2009裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第4部分：低溫試驗(yàn)

 GJB150.5A-2009裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第5部分：溫度沖擊試驗(yàn)

 GJB360B-2009電子及電氣元件試驗(yàn)方法方法107溫度沖擊試驗(yàn)

LED高低溫快速溫度沖擊試驗(yàn)箱，設(shè)備選型